AFMWorkshop TT2-AFM

AFMWorkshop TT2-AFM
  • 产品规格TT2-AFM
  • 参考价格未定价
  • 发布时间2018-06-27
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TT2-AFM

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AFMworkshop原子力显微镜的主要优势:

1、AFMworkshop是美国加州三大原子力显微镜厂家中性价比最高的一家,提供高性能科研级产品的同时,价格远低于另外两家: Oxford(原Asylum) ,Bruker(原Veeco)

2、产品设计更开放,更简洁,软件基于Labview,全自动下针,极易上手

3、提供多种机型选择,有样品扫描,有针式扫描,提供大样品台。

其中TT-AFM样机实验室已经安装调试完毕, 首次测样免费,

欢迎前来体验试用, 咨询电话:0571-87039363

 

 

TT2-AFM可以轻松完成高质量的成像诸如DNA,纳米颗粒和纳米管

TT2-AFM是一个紧凑的桌面式AFM,他可以保证在较低的价格下获得科研级的高分辨率图像


TT-AFM用来测试和分析硅原子台阶

TT-AFM的垂直分辨率(z轴方向)可以轻松证明硅测试样品是一个取向差表为1°的Si平面。
测试样品包括两种台阶类型;其中50nm的最大台阶可以使用TT -AFM视频显微镜直接观测(如图) ,
而该样品还包括单个原子的台阶高度为0.314纳米。

悬臂和Si原子台阶的光学显微镜图像。在光学显微镜图像中的线是在样品表面上的50纳米的台阶。使用AFM继续观察可以发现在大原子台阶上的单个原子。 


4×4um硅图像显示的1.8纳米的Z轴范围。每个灰色鳞片代表的0.314纳米单个原子台阶。

蓝色方块示用来测试样品的表面粗糙度。。

红色圆圈表示一缺陷。对于圈定的缺陷信息如下所示。

 


该直方图分析显示每个样品上的台阶的高度。测试获得台阶高度为0.303 nm

 


我们计算了标有蓝框的区域的表面粗糙度。对于此示例的表面粗糙度(Ra )的预期值是0.06纳米。

 


由红圈图像中指定的缺陷的轮廓线是高度0.471纳米。

 

开放性设计

开放式的设计是AFMworkshop提供的所有产品的核心。可以非常容易的设计新型实验,并通过使用LabVIEW软件来实现。在文档包里包含所有可用的TT- AFM机械图纸。

最后,AFMWorkshop的客户论坛使得公司分享了TT- AFM直接与所有的客户开发的专门设计。对于特殊的应用,其他类型的扫描器如平板和管状扫描器可以很容易地加入到显微镜平台上。


EBOX(控制器)

TT-AFM的电路基于着行业标准的USB数据采集电子部件构成。重要功能,诸如XY扫描,由一个24位数字模转换器构成。结合了高保真的模拟Z轴反馈电路可以获得最高精度的扫描。轻敲模式使用高灵敏度的相位电路来检测相位和振幅反馈变化。

1.24 位数模转换器

通过一个32位微处理器驱动的24位数模转换器产生的扫描波形驱动XY轴的压电陶瓷扫描器精密移动。24位的扫描可以获得最高分辨率的AFM图像。反馈控制使用XY闭环传感器精确的追踪探针在样品表面的位置。

2.相位振幅探测电路

Ebox中我们使用超稳定的相位振幅探测电路来测试相位和振幅。系统可以在轻敲模式下高速的反馈测试相位和振幅的变化。

3.信号进出

Ebox的背面有一个50针的带状线缆可以获得Ebox内部的所有电子信号,而无需打开Ebox

4.状态灯

Ebox前部有七个故障诊断灯,在Ebox发生故障时用来确定电路模块。

5.精确的模拟回路系统

Z轴压电陶瓷使用高敏感度的光学杠杆传感器来精确的反馈控制,探针和样品使用专用的样品探针夹持器来保证位置的垂直以准确的获得位置信号。

6.可变增益的高压压电陶瓷驱动器

通过一个可以变增益的高压压电陶瓷驱动器,通过调高信噪比来获得小范围扫描时候超高的分辨率。



如何为你的纳米研究选择合适的AFM

原子力显微镜是纳米结构的观测和测量中必不可少的工具。 AFMWorkshop的科研级原子力显微镜提供了一个实惠的价格。为纳米科技研究者提供了最佳的性能和价格间的均衡。我们的仪器是稳定可靠,并且可以在单用户以及多用户实验室中使用。 AFMWorkshop的显微镜提供给你基础客户和高阶AFM用户同时提供了一个强大的和直观的用户界面。

我们的原子力显微镜:

§  对软硬物质的纳米结构都能给出完美的成像

§  具有开放性的结构可以方便改进成一个创新型的仪器

§  可以为客户提供出版级的图片

§  包含各种常规功能

出版物

纵观世界各国,AFMWorkshopAFM每天都在生命和物理科学纳米技术研究的各个项目中使用着。虽然AFMWorkshop产品在2010年底才被推向市场,我们的客户使用AFMWorkshopAFM发表了越来越多的论文。 (通常需要数年,一个全新客户才能发表相关论文)要查看出版物引用AFMWorkshop产品列表请见论文列表

扫描样品

所有样品试用AFMworkshop的原子力显微镜获得图片。下面的样品包括纳米结构,图形化结构表面,材料和生命科学样品.  更多样品结构可以看我们的图库。

纳米结构


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左图是500 nm X 500 nm轻敲模式成像  1 nm 3 nm 纳米颗粒使用 50 x 50 x 15 µm 扫描器右图是  20µm x 20µm自组装磷脂纳米管

结构化表面

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左图是a 40 X 40 µm接触模式成像MEMS齿轮右图50 x 50 µm CMP抛光后的结构化晶圆

材料

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左图是 2 x 2 µm BOPP 纤维在大气环境下.  右图是 10 x 10 µm 范围下0.3 nm 硅纳米台阶.  在底部的硅图像是一个50纳米的大台阶,但是我们仍然可以清晰可见0.3nm的单原子台阶

生命科学

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上面两图显示了TT-AFM在生命科学成像上的强大能力。左图是6 x 4 µm大肠杆菌的相位图.  右图是 3 x 3 µm 的沉积在云母片表面的 DNA 轻敲模式图片

AFMWorkshop AFM 系列优点

高分辨率    Z 轴噪音0.08 nm, TT-AFM能够高分辨率扫描DNA,纳米颗粒和纳米管等样品。为了确保最佳性能,我们的技术人员可以提供售前评估提出了AFM安装位置

高扩展性   我们的产品可以在你购买后提供更多升级组件。我们的机器基于同一控制器下提供多种平台机器(如TT-AFMNPAFMLS-AFM

工作模式  我们的机器提供标准的模式如轻敲模式,接触模式,相位和横向力显微镜。同时可以增加导电原子力显微镜,纳米刻蚀,磁力显微镜,高阶力曲线,静电力显微镜,扫描热显微镜等功能。

 


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TT2-AFM原子力显微镜(AFM)可以在不破坏样品内部结构的情况下观测样品微区三维形貌和多相结构(纳米级别);同时可对样品表面物理化学特性进行研究,数值测定与分析。

   强调指出以下指标均为客户实际工作状态下的指标。

配置及参数要求

1.标准工作模式:

1.1轻敲模式(vibration mode)

1.2接触模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4横向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲线测试(Force curve)可测杨氏模量

可选工作模式

1.6磁场力显微镜 (Magnetic Force Microscopy, MFM)

1.7静电力显微镜 (Electric Force Microscopy, EFM)

1.8纳米刻蚀 (Nanolithography)

 

2.系统尺寸:AFM(不包括控制器与电脑)保障AFM达到所需工作要求的防震隔音电磁屏蔽系统整体尺寸不超过50*50*85cm

 

3. ★自动化控制:

3.1具有软件自动进针功能。通过软件控制Z方向马达实现探针自动进针,马达行程25mm,最小步长330nm,最大速度       8 mm/分钟。

 

4.扫描器

4.1★扫描器是X,Y,Z三轴分离的扫描器,X,Y,Z三个驱动轴严格正交;可选大小两个扫描范围。大范围扫描器:50×50×17μmZ轴噪音0.15nm,小范围扫描器:15×15×7μm,,Z轴噪音0.08nm

 

5.光电二极管测试带宽≥500KHz

6.控制器:

6.1: 数据连接借口USB输出

6.2: XY轴扫描使用2个工作在7Khz24DAC同时串联一个4位的增益控制器(带宽大于200Hz)

6.3 : 2个控制16DAC控制频率为2Khz

6.4 : 816位的ADC工作频率48Khz

6.5: 振幅/相位探测器频率范围2Khz-800kHZ,输出电压10Vpp,增益控制

6.6:  Z轴反馈控制使用GPID(通用总线接口),具有4位增益系统,

6.7:  控制器提供智能故障诊断系统,如发生故障,可迅速进行诊断与处理。

 

7.操作软件:使用Laview环境语言控制,免费提供操作软件,并提供终身免费维护及升级,同时开放人机交流界面的源代码。同时提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 数据分析系统

 

8.电脑配置不低于以下要求:8G内存工作站主机;4核的Intel-i5处理器; 124尺寸的显示器。

 

9. 光学系统:CMOS像素点≥300万,光学分辨率≤2微米,视场范围从2mm*2mm300um*300um可调,放大倍率从45倍到400倍机械可调。

 

10.  防震隔音屏蔽系统:能够保证AFM在指定的安装环境正常工作,如果安装环境满足AFM工作要求,不对配置防震隔音屏蔽系统做强制要求。

 

11.  包含附件:

11.1 探针:10根轻敲模式探针。

11.2 标准样品:校准光栅,和云母片。

11.3 工具:各种操作AFM所必须的镊子以及螺丝刀等。

 

三、售后服务

1.★保修期:验收之日起1年。保修期内任何故障均由供货方免费维修和技术支持。

2.免费提供生产厂家技术人员的安装、调试和验收服务。

3.提供原厂技术人员负责的对客户的操作技术培训和相关的技术资料。

4.保修期间设备发生故障,仪器供应方会在8小时内对用户的服务要求做出响应,接到用户维修通知后2个工作日内到客户现场。

5.质保期内对设备进行两年至少1次定期巡检。

6.★终身提供技术支持,出保后只收取硬件成本费,不收取人工费、差旅费。

7.★备品配件:如果出现更换零件不能及时到货导致设备2周或以上不能工作的情况,可提供demo机上的零件保证设备的正常工作。

 

四、交货日期:

合同签订并收到付款后3个月内。

 

五、安装与验收:

(一)、仪器到达最终用户前,供货方提供安装前期准备书面通知,并协助最终用户做好安装前准备。

(二)、仪器到达最终用户后,供货方须在5个工作日内安排人员前往现场免费进行安装调试。安装、调试及试运行后应达到承诺的技术指标,提供不少于两天的使用培训。

(三)设备验收:安装完毕后,按标书的技术要求,系统正常运行一周以上后签署验收报告。






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AFMWorkshop
是专门从事设计和制造原子力显微镜的专业化公司 。美国加洲三大原子力显微镜品牌之一, 提供同等优质产品的情况下, 性价比远远高于其它两家( Bruker Vecoo Oxford AsylumResearch) 产品广泛应用于科学研究,教育,质量和过程控制等各个高新科技领域。公司创始人是有30年原子力显微镜经验的 Paul West博士,原子力显微镜教材《Atomic Forces Microscopes》的作者之一。从AFM商业化开始至今 West博士已参与制造了数以千计的原子力显微镜并且现在仍在世界各地使用着

AFMWorkshop – Balance of Price and Performance
我们发现有许多教学机构,研究团体和小企业有着世界一流的理念,但是却没有预算来实现它们。 AFMWorkshop的目标就是使原子力显微镜更实惠,更容易获得,以帮助这些群体,给予他们需要的仪器来实现他们的想法,降低门槛,让越来越多的人能够使用原子力显微镜这种仪器。

我们如何来降低成本?

AFMWorkshop的做法是基于互联网模式 1、简化设计,专注于常用功能,将极少用到又需要高额专利费用的功能去掉或改成选配件 2、全球采购降低制造成本;3、使用标准件,以减少制造定制组件的成本,同时也降低使用维护成本 4、比其他原子力显微镜公司更低开销的商业模式(尽可能减少商业宣传,以客户的口碑宣传为公司的生命线,AFMworkshop称之为:家庭理念)。我们的相信,这种面向未来的商业模式,使我们的仪器具有极高的性价比。


原子力显微镜表征纳米颗粒结构

原子力显微镜可以在亚纳米级的分辨率下对纳米颗粒进行三维表征. 使用原子力显微镜对纳米颗粒表征相对于传统表征方法如光散射法,电子显微镜和光学显微镜对比有一系列优点。

下面是原子力显微镜表征纳米颗粒的一些独有优点:

§  可以表征0.5nm直径的纳米颗粒

§  可以表征纳米颗粒在30nm以下的纳米颗粒混合物的分布情况

§  可以表征不同几何状态的纳米颗粒.

§  可以直接表征水化纳米颗粒或是在液体环境下观察

§  可以表征纳米颗粒的物理特性或是磁性

表征0.5nm的纳米颗粒

原子力显微镜的一个显著特点是,它可以直接成像在0.5 nm50 +纳米之间纳米颗粒。可以从AFM图像中直接计算出纳米颗粒尺寸分布

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左图是1nm 3 nm 钴纳米颗粒. 右图是 CdSe量子点分分布在高分子薄膜上。

100-nm-gold-nanoparticles.jpg200-nm-gold-nanoparticles.jpg

左图是 100 nm的金纳米颗粒. 右图是20nm的金纳米颗粒.

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2.7 nm 直径的 CdSe 量子点 左图是2D图片,右图是3D图片.

纳米颗粒混合物

AFM可以方便的区分和识别多种纳米颗粒混合体系的分布状况。AFMWorkshop內建纳米颗粒分析软件可以快速简单的表征各种纳米颗粒。

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                           如上图所示,上图是两种不同的聚苯乙烯纳米颗粒(20 nm 100 nm)

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          左图是2-20纳米的纳米颗粒分布图。右图是3个独立的纳米颗粒的轮廓图

不同几何结构纳米颗粒分析

AFM可以评估纳米颗粒的不同的几何结构,从传统的球形到千奇百怪造型的纳米团束。

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          左图是甜甜圈形的纳米颗粒,右图是三角形的纳米金颗粒。

AFM 分析水化纳米颗粒或液体下的纳米颗粒

原子力显微镜可以在大气环境下测量导电或不导电样品,包括复杂的聚合物和生物样本。如果样品需要保持在液体环境或溶液pH值控制的环境下,AFMWorkshop也可以提供一个液体池,允许AFM在液体环境下扫描。

纳米颗粒物理特性

AFMworkshopAFM可以提供多种纳米颗粒的物理特性测试如,导电性,磁学,机械性能和热导分析

纳米颗粒粒径分析

AFMworkshop提供一套纳米颗粒分析软件可供选择。他可以测试纳米颗粒关键尺寸。这可以使AFM测试纳米颗粒整个三维结构。


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                                                                                         3µm x3 µm 扫描范围纳米颗粒的3D. 纳米颗粒直径从4nm-12nm

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                      专业软件算法可以对米粒子在图像中识别然后计算。同时软件可以获得样品高度,体积你,表面积等参数

                        HistogramPM.jpg

                           使用颗粒分析软件分析颗粒直径的分布状况








 






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