TT2-AFM原子力显微镜（AFM）可以在不破坏样品内部结构的情况下观测样品微区三维形貌和多相结构（纳米级别）；同时可对样品表面物理化学特性进行研究，数值测定与分析。

   强调指出以下指标均为客户实际工作状态下的指标。

配置及参数要求

1.标准工作模式：

1.1轻敲模式(vibration mode)

1.2接触模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4横向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲线测试（Force curve）可测杨氏模量

可选工作模式

1.6磁场力显微镜 (Magnetic Force Microscopy, MFM)

1.7静电力显微镜 (Electric Force Microscopy, EFM)

1.8纳米刻蚀 (Nanolithography)

2.系统尺寸：AFM（不包括控制器与电脑）保障AFM达到所需工作要求的防震隔音电磁屏蔽系统整体尺寸不超过50*50*85cm。

3. ★自动化控制：

3.1具有软件自动进针功能。通过软件控制Z方向马达实现探针自动进针，马达行程25mm，最小步长330nm，最大速度       8 mm/分钟。

4.扫描器

4.1★扫描器是X,Y,Z三轴分离的扫描器，X,Y,Z三个驱动轴严格正交；可选大小两个扫描范围。大范围扫描器：50×50×17μm，Z轴噪音0.15nm，小范围扫描器：15×15×7μm，，Z轴噪音0.08nm

5.光电二极管测试带宽≥500KHz

6.控制器:

6.1: 数据连接借口USB输出

6.2: XY轴扫描使用2个工作在7Khz的24位DAC同时串联一个4位的增益控制器(带宽大于200Hz)

6.3: 振幅/相位探测器频率范围2Khz-800kHZ,输出电压10Vpp，增益控制

6.4:  Z轴反馈控制使用GPID（通用总线接口），具有4位增益系统，

6.5:  控制器提供智能故障诊断系统，如发生故障，可迅速进行诊断与处理。

7.操作软件：使用Laview环境语言控制，免费提供操作软件，并提供终身免费维护及升级，同时开放人机交流界面的源代码。同时提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 数据分析系统

8．电脑配置不低于以下要求：8G内存工作站主机；4核的Intel-i5处理器; 1台24尺寸的显示器。

9. 光学系统：CMOS像素点≥300万，光学分辨率≤2微米，视场范围从2mm*2mm到300um*300um可调，放大倍率从45倍到400倍机械可调。

10.  防震隔音屏蔽系统：能够保证AFM在指定的安装环境正常工作，如果安装环境满足AFM工作要求，不对配置防震隔音屏蔽系统做强制要求。

11.  包含附件：

11.1 探针：10根轻敲模式探针。

11.2 标准样品：校准光栅，和云母片。

11.3 工具：各种操作AFM所必须的镊子以及螺丝刀等。

三、售后服务

1.★保修期：验收之日起1年。保修期内任何故障均由供货方免费维修和技术支持。

2.免费提供生产厂家技术人员的安装、调试和验收服务。

3.提供原厂技术人员负责的对客户的操作技术培训和相关的技术资料。

4.保修期间设备发生故障，仪器供应方会在8小时内对用户的服务要求做出响应，接到用户维修通知后2个工作日内到客户现场。

5.质保期内对设备进行两年至少1次定期巡检。

6.★终身提供技术支持，出保后只收取硬件成本费，不收取人工费、差旅费。

7.★备品配件：如果出现更换零件不能及时到货导致设备2周或以上不能工作的情况，可提供demo机上的零件保证设备的正常工作。

四、交货日期：

合同签订并收到付款后3个月内。

五、安装与验收：

（一）、仪器到达最终用户前，供货方提供安装前期准备书面通知，并协助最终用户做好安装前准备。

（二）、仪器到达最终用户后，供货方须在5个工作日内安排人员前往现场免费进行安装调试。安装、调试及试运行后应达到承诺的技术指标，提供不少于两天的使用培训。

（三）设备验收：安装完毕后，按标书的技术要求，系统正常运行一周以上后签署验收报告。

AFMWorkshop是专门从事设计和制造原子力显微镜的专业化公司 。美国加洲三家原子力显微镜品牌之一, 提供同等优质产品的情况下, 价格优于其它两家( Bruker 原Vecoo， Oxford 原AsylumResearch)， 产品广泛应用于科学研究，教育，质量和过程控制等各个高新科技领域。公司创始人是有30年原子力显微镜经验的 Paul West博士，原子力显微镜教材《Atomic Forces Microscopes》的作者之一。从AFM商业化开始至今 ，West博士已参与制造了数以千计的原子力显微镜并且现在仍在世界各地使用着 。

AFMWorkshop – Balance of Price and Performance
我们发现有许多教学机构，研究团体和小企业有着世界一流的理念，但是却没有预算来实现它们。 AFMWorkshop的目标就是使原子力显微镜更实惠，更容易获得，以帮助这些群体，给予他们需要的仪器来实现他们的想法，降低门槛，让越来越多的人能够使用原子力显微镜这种仪器。

我们如何来降低成本？

AFMWorkshop的做法是基于互联网模式 ：1、简化设计，专注于常用功能，将极少用到又需要高额专利费用的功能去掉或改成选配件 ；2、全球采购降低制造成本；3、使用标准件，以减少制造定制组件的成本，同时也降低使用维护成本 ，4、比其他原子力显微镜公司更低开销的商业模式（尽可能减少商业宣传，以客户的口碑宣传为公司的生命线，AFMworkshop称之为：家庭理念）。我们的相信，这种面向未来的商业模式，使我们的仪器具有极高的性价比。

原子力显微镜表征纳米颗粒结构

原子力显微镜可以在亚纳米级的分辨率下对纳米颗粒进行三维表征. 使用原子力显微镜对纳米颗粒表征相对于传统表征方法如光散射法，电子显微镜和光学显微镜对比有一系列优点。

下面是原子力显微镜表征纳米颗粒的一些独有优点:

§  可以表征0.5nm直径的纳米颗粒

§  可以表征纳米颗粒在30nm以下的纳米颗粒混合物的分布情况

§  可以表征不同几何状态的纳米颗粒.

§  可以直接表征水化纳米颗粒或是在液体环境下观察

§  可以表征纳米颗粒的物理特性或是磁性

表征0.5nm的纳米颗粒

原子力显微镜的一个显著特点是,它可以直接成像在0.5 nm和50 +纳米之间纳米颗粒。可以从AFM图像中直接计算出纳米颗粒尺寸分布。

AFM 分析水化纳米颗粒或液体下的纳米颗粒

原子力显微镜可以在大气环境下测量导电或不导电样品，包括复杂的聚合物和生物样本。如果样品需要保持在液体环境或溶液pH值控制的环境下,AFMWorkshop也可以提供一个液体池，允许AFM在液体环境下扫描。

纳米颗粒物理特性

AFMworkshop的AFM可以提供多种纳米颗粒的物理特性测试如，导电性，磁学，机械性能和热导分析

纳米颗粒粒径分析

AFMworkshop提供一套纳米颗粒分析软件可供选择。他可以测试纳米颗粒关键尺寸。这可以使AFM测试纳米颗粒整个三维结构。